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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:北京華測(cè)高溫四探針測(cè)試儀2024升級(jí)

  • 產(chǎn)品型號(hào):Huace—600
  • 產(chǎn)品廠商:華測(cè)
  • 產(chǎn)品價(jià)格:0
  • 折扣價(jià)格:0
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡(jiǎn)單介紹:
北京華測(cè)高溫四探針測(cè)試儀直售分析被測(cè)樣的電阻和電阻率隨溫度、 時(shí)間變化的曲 線. 目前主要針對(duì)圓片、方塊、長(zhǎng)條等樣品進(jìn)行測(cè)試,可以廣泛用于碳系導(dǎo)電材料、 金屬系導(dǎo)電材料、 金屬氧化物系導(dǎo)電材料、結(jié) 構(gòu)型高分子導(dǎo)電材料、復(fù)合導(dǎo)電材料等材料的電阻率測(cè)量。 通過(guò)測(cè)控軟件可以顯示出溫度與電阻,電阻率,電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的變化曲線。 北京華測(cè)高溫四探針測(cè)試儀直售廣泛應(yīng)用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)。
詳情介紹:


北京華測(cè)高溫四探針測(cè)試儀



一、北京華測(cè)高溫四探針測(cè)試儀簡(jiǎn)介:

●北京華測(cè)高溫四探針測(cè)試儀測(cè)量系統(tǒng),該系統(tǒng)可以測(cè)量硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率、測(cè)定硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層的方塊電阻 以及測(cè)量導(dǎo)電玻璃(ITO)和其它導(dǎo)電薄膜的方塊電阻。
●采用由四端測(cè)量方法測(cè)試電阻率系統(tǒng)與高溫試驗(yàn)箱為一體的高溫測(cè)試系統(tǒng),滿足半導(dǎo)體及導(dǎo)體材料因溫度變化對(duì)電阻值變化的 測(cè)量要求,通以在高溫 、真空、氣氛的條件下測(cè)量導(dǎo)電材料電阻和電阻率,可以分析被測(cè)樣的電阻和電阻率隨溫度、 時(shí)間變化的曲 線. 目前主要針對(duì)圓片、方塊、長(zhǎng)條等樣品進(jìn)行測(cè)試,可以廣泛用于碳系導(dǎo)電材料、 金屬系導(dǎo)電材料、 金屬氧化物系導(dǎo)電材料、結(jié) 構(gòu)型高分子導(dǎo)電材料、復(fù)合導(dǎo)電材料等材料的電阻率測(cè)量。通過(guò)測(cè)控軟件可以顯示出溫度與電阻,電阻率,電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的變化曲線。

二、北京華測(cè)高溫四探針測(cè)試儀適用范圍:
1、可以測(cè)量高溫、真空、氣氛下薄膜方塊電阻和薄層電阻率;
2、軟件、觸摸屏、高溫爐等集成于一體,可以進(jìn)行可視化操作;
3、可實(shí)現(xiàn)純凈氣氛條件下的測(cè)量;同時(shí)保證探針在高溫下不氧化;
4、采用labview軟件開(kāi)發(fā),操控性、兼容性好、方便升級(jí);
5、可自動(dòng)調(diào)節(jié)樣品測(cè)試電壓,探針和薄膜接觸閃絡(luò)現(xiàn)象;
6、控溫和測(cè)溫采用同一個(gè)傳感器,保證樣品每次采集的溫度都是樣品實(shí)際溫度;
7、可配套使用Keithley2400或2600數(shù)字多用表。

三、北京華測(cè)高溫四探針測(cè)試儀特點(diǎn):
● TVS瞬間抑制防護(hù)技術(shù): 光耦與隔離無(wú)非是提高儀器的采集的抗干擾處理,對(duì)于閃絡(luò)放電過(guò)程中的浪涌對(duì)控制系統(tǒng)的防護(hù)起不到作用。華測(cè)的TVS瞬間抑制防護(hù)技術(shù),將起到對(duì)控制系統(tǒng)的防護(hù)。
● 多級(jí)循環(huán)溫度采集技術(shù): 設(shè)備采用PID算法,以及多級(jí)循環(huán)溫度采集以保證溫度的有效值??販睾蜏y(cè)溫采用同一個(gè)傳感器,保證樣品每次采集的溫度都 是樣品實(shí)際溫度.
● 雙系統(tǒng)互鎖技術(shù)及隔離屏蔽技術(shù): 本設(shè)備不僅具備過(guò)壓、過(guò)流保護(hù)系統(tǒng),它的雙系統(tǒng)互鎖機(jī)制,當(dāng)任何元器件出現(xiàn)問(wèn)題或單系統(tǒng)出現(xiàn)故障時(shí),將瞬間切斷 電源。采用低通濾波電流檢測(cè)技術(shù)以保證采集電流的有效值 ,以及電流抗干擾的屏蔽。
● SPWM電子升壓技術(shù) 采用SPWM電子升壓技術(shù),這一技術(shù)具有升壓速度平穩(wěn),精度高。便于維護(hù)等優(yōu)點(diǎn)。

四、北京華測(cè)高溫四探針測(cè)試儀技術(shù)參數(shù):
●測(cè)量溫度:室溫---600°C ;
●控溫精度:±1℃ ,
●顯示精度:±0.1℃;
●升溫斜率:1-5°C/min;
●測(cè)量精度:0.05%;
●電阻率:10-5 ~105 Ω.cm ;
●電導(dǎo)率:10-5 ~105 s/cm
●方塊電阻:10-4 ~106 Ω/□;
●電阻:10-5 ~105 Ω;
●探針間距:2±0.01mm;
●探針壓力:0~2kg可調(diào);
●針間絕緣電阻:≥1000MΩ;
●真空腔體漏率標(biāo)準(zhǔn)要小于10-9 Pam3/s ;
●樣品:直徑15~30mm,厚度小于4mm;
●設(shè)備尺寸:680mmX450mmX400mm





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