產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
儲能電介質(zhì)充放電測試系統(tǒng)簡介
儲能電介質(zhì)充放電測試系統(tǒng)采用特殊高壓開關，通過單刀雙擲控制充電和放電過程，開關可以承受10kV高壓，寄生電容小，動作時間短；
詳情介紹：
儲能電介質(zhì)充放電測試系統(tǒng)
產(chǎn)品簡介
華測Huace-DCS10KV儲能電介質(zhì)充放電系統(tǒng)采用**設計的電容放電電路來測量，測試電路如下圖所示。在該電路中，首先將介電膜充電到給定電壓，之后通過閉合高速MOS高壓開關，存儲在電容器膜中的能量被放電到電阻器負載。在放電過程中電壓對樣品的時間依賴性可以通過檢波器進行記錄。介電材料的儲能性能通常取決于放電速度，可通過改變負載電阻器的電阻來調(diào)節(jié)。通常測試系統(tǒng)中裝了具有不同電阻的電阻器。在測試過程中，用戶需要選擇電阻器或幾個電阻器的組合獲得得所需的電阻，并將電阻器或電阻的組合連接到測試的電介質(zhì)材料。在該電路中，選擇高壓MOSFET開關以釋放儲存的能量非常重要。該開關限制電路的*大放電速度和*大充電電壓。本套測試系統(tǒng)由放電采集電路、高壓放大器或高壓直流電源和控制計算機構(gòu)成。在測試中，測試人員需要通過選擇合適的電阻來確定測量的放電速度，測試樣品上的電壓可以由計算機自動獲得。
主要參數(shù)
1、電流探頭帶寬：120MHz；
2、峰值電流：0-100A，150 A(多種電流可監(jiān)測）；
3、電流采集精度：1mA；
4、高壓源模塊：3KV，5KV， 10kV，15KV多可選（電流：0-5mA）；
5、開關適用：100萬次，耐壓15kV；
6、溫控范圍：0-200℃；
7、溫度穩(wěn)定性和精度：0.1℃；
8、測試樣品：薄膜，厚膜，陶瓷，玻璃等；
9、可以配合各種極化設備進行多種壓電材料和介電材料的測試。
產(chǎn)品特點：
1、 本系統(tǒng)采用特殊高壓開關，通過單刀雙擲控制充電和放電過程，開關可以承受10kV高壓，寄生電容小，動作時間短；
2、 電壓10kV，電流5mA；
3、 可外接高壓放大器或高壓直流電源；
4、 通過電流探頭檢測放電電流，可達100A；
5、 可以實現(xiàn)欠阻尼和過阻尼兩種測試模式，欠阻尼測試時，放電回路短路，不使用電阻負載，過阻尼測試時，使用較大的高精
度無感電阻作為放電負載；
6、 可以作為一個信號源，產(chǎn)生任意波形；
7、 通過示波器采集數(shù)據(jù)，并能直接計算儲能密度；
8、 定制載樣平臺，可適用于陶瓷和薄膜樣品測試；
9、 可以進行變溫測試，RT~200℃；
10、 可以進行疲勞測試；
11、 還可用于極化材料之用
利用放電電路進行測試
與P-E回滯測量類似，在放電測試之前，應在介電材料的表面制備導電電極，
還應測量可用于估計測試的放電速度的弱場介電特性。因為在測試中經(jīng)常涉及
幾千伏的高電壓，所以介電材料通常浸入硅油中。測試者應該確定他們感興趣
的放電速度。放電速度可以通過樣品的低場電容C和負載電阻RL(RLC常數(shù)）
粗略計算。一旦確定了期望的放電速度，就可以選擇負載電阻器并將其連接到
測試樣品，然后將充電電壓施加到介電材料。一旦樣品完全充電，然后通過按
下電路盒上的放電按鈕關閉高速開關，將儲存的能量釋放到負載電阻器，電阻
器上電壓的時間依賴性就可由計算機自動記錄。
在此將以P（VDF-TrFE-CFE）三元共聚物（63／37／7.5）作為示例材料，來
演示如何解釋放電結(jié)果。使用上圖所示的電路，表征三元共聚物對負載電阻器
的放電行為。使用時間相關的電壓數(shù)據(jù)公式，可以計算放電能量密度的時間依
賴性。圖中顯示了三元共聚物中不同充電電場的1MΩ負載的放電能量密度隨
時間的變化?？偡烹娔芰棵芏扰c從單極P-E回路推導出的能量密度相當。這里
使用薄膜樣品的電容在1kHz下測量為約1nF。對幾種三元共聚物膜樣品進行表
征發(fā)現(xiàn)，由于極化響應的非線性和頻率依賴性，三元共聚物的放電特性不能簡
單地通過RC常數(shù)來描述，其中R是電阻(R=RL+ESR)
假設電容器電容不隨頻率、電場和RC電路的時間常數(shù)(τ=RLC+ESRXC)變化，
如果RL>ESR，可以忽略ESRXC,，則放電能量密度與時間的關系如下：
Uc(1)=UD(1-e-(21/t))
式中，UD為放電能量。
為了便于比較，使用1nF的電容和1MΩ的負載電阻，利用公式來估算能量放電
時間。70％能量釋放所需理論放電時間為0.6ms，50％能量釋放所需理論放電
時間為0.35ms。而實驗中，這兩種能量釋放所需放電時間分別為0.66ms和
0.3ms。估計值和測量值之間的差異反映了非線性［有效介電常數(shù)在高場（＞
100MV／m）變?。莺徒殡婍憫念l率依賴性（介電常數(shù)在更高頻率或更短
放電時間下變得更?。?。此外，ESR在高頻（或短放電時間）下很小，并且在
放電后時間變長。
對于相同的三元共聚物薄膜電容器，其他負載電阻（(RLL分別為100kΩ和
1kΩ）下放電能量密度如圖所示。正如預期的那樣，減小的RL會縮短放電時
間。然而，仔細檢查實驗數(shù)據(jù)發(fā)現(xiàn)，放電時間的減少與RL的減少不成比例。
