一、高溫四探針測(cè)試儀器產(chǎn)品簡(jiǎn)介

          H-800高溫四探針測(cè)試儀器采用四探針雙電測(cè)量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料在高溫、真空及氣氛條件下測(cè)量的一種重要的工具。本儀器配置各類(lèi)測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，配備10英寸觸摸屏，軟件可保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表；本儀器可顯示電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電 流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導(dǎo) 率，配置不同的測(cè)試治具可以滿(mǎn)足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu)。雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線(xiàn)或方形四探針雙位測(cè)量。該儀器利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測(cè)量，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析，自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響，它與單電測(cè)直線(xiàn)或方形四探針相比，大大提高精   確度,也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。

        H-800系列采用電子護(hù)系統(tǒng)，設(shè)備的an全性；選用熱電偶保定溫度的采集有效值、采用SPWM 電子升壓技術(shù)，電壓輸出穩(wěn)定性好。配備高精度電壓、電流傳感器以保證試驗(yàn)數(shù)據(jù)的有效性。

        H-800系統(tǒng)搭配Labview系統(tǒng)開(kāi)發(fā)的hcpro軟件，具備彈性的自定義功能，可進(jìn)行電壓、電 流、溫度、時(shí)間等設(shè)置，符合導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料與其它新材料測(cè)試多樣化的需求。高精度的輸出與測(cè)量規(guī)格，保障檢測(cè)結(jié)果的品質(zhì)，適用于新材料數(shù)據(jù)的檢測(cè)。例如：多晶硅材料、石墨烯材料、導(dǎo)電功能薄膜材料、半導(dǎo)體材料，也可做為科研院所新材料的耐電弧性材料的性能測(cè)試。針探針測(cè)試儀做了多項(xiàng)an全設(shè)計(jì)，測(cè)試過(guò)程中有過(guò)電壓、過(guò)電流、超溫等異常情況以保證測(cè)試過(guò)程的an全；資料保存機(jī)制：當(dāng)遇到電腦異常瞬時(shí)斷電可將資料保存于控制器中，不丟失試驗(yàn)數(shù)所新開(kāi)啟動(dòng)后可恢復(fù)原有試驗(yàn)數(shù)據(jù)。

二、高溫四探針測(cè)試儀器適用范圍

多晶硅材料

石墨烯材料

石墨功能材料

半導(dǎo)體材料

導(dǎo)電功能薄膜材料

鍺類(lèi)功能材料

導(dǎo)電玻璃（ito）材料

柔性透明導(dǎo)電薄膜

其它導(dǎo)電材料等

三、高溫四探針測(cè)試儀器產(chǎn)品功能

█多功能真空加熱爐，一體爐膛設(shè)計(jì)、可實(shí)現(xiàn)、高溫、真空、氣氛環(huán)境下進(jìn)行測(cè)試

█ 采用鉑材料作為導(dǎo)線(xiàn)、以減少信號(hào)衰減、提高測(cè)試精度，

█ 可以測(cè)量半導(dǎo)體薄膜材、薄片材料的方塊電阻、電阻率；

█ 可實(shí)現(xiàn)常溫、變溫、恒溫條件的I-V、R-T、R-t等測(cè)量功能;

█ 溫度傳感器、PID自動(dòng)溫度控制，使測(cè)量溫度更準(zhǔn)確；

█ 儀器可自動(dòng)計(jì)算試樣的電阻率pv;

█ 10寸觸摸屏設(shè)計(jì)，一體化設(shè)計(jì)機(jī)械結(jié)構(gòu)，穩(wěn)定、可靠；

█  程控電子升壓技術(shù)，紋波低、TVS防護(hù)系統(tǒng)，保證儀器an全  

█99氧化鋁陶瓷絕緣、碳化鎢探針；

█huace pro 強(qiáng)大的控制分析軟件。